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Analizador de curva característica IV del dispositivo de Potencia sti5000c

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Descripción general

La curva I - V (curva característica estándar) del dispositivo de tasa de éxito se puede generar automáticamente. Tiene una amplia aplicación en el análisis de fallas. El nuevo nombre es sti5000c Curve tracker. Esta curva de rendimiento del producto se ha puesto en uso en muchos de los cinco laboratorios de I + d, centros de inspección de materiales entrantes y laboratorios de las principales instituciones de investigación científica y universidades, conocidos por su capacidad de respuesta precisa y rápida. La conversión digital - analógico de 16 bits utilizada actualmente mejora la resolución, y la resolución de rdson es de nivel micro - europeo. El nuevo nombre es sti5000c Curve tracker. La curva de rendimiento del producto ya está en muchas cinco empresas.

Detalles del producto

Software STI - Cure traceCon el motor de prueba st5000, se puede generar automáticamente la curva I - V (curva característica estándar) del dispositivo de tasa de éxito. Tiene una amplia aplicación en el análisis de fallas. El nuevo nombre es sti5000c Curve tracker. Esta curva de rendimiento del producto se ha puesto en uso en muchos de los cinco laboratorios de I + d, centros de inspección de materiales entrantes y laboratorios de las principales instituciones de investigación científica y universidades, conocidos por su capacidad de respuesta precisa y rápida. La conversión digital - analógico de 16 bits utilizada actualmente mejora la resolución, y la resolución de rdson es de nivel micro - europeo.

Curva característica estándar:
Mosfet (canal N y canal P)
ID vs. VDS en el rango de VGS
ID vs. VGS en VDS fijo
IS vs. VSD
RDS vs. VGS en ID fijo
RDS vs. ID en varios VGS
IDSS vs. VDS
Transistor (NPN y PNP)
HFE vs. IC
BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE(SAT) vs. IC
VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (uso de prueba VBE)
VCE(SAT) vs. IB en un rango de IC
VF vs. IF