Versatilidad incluso a grandes distancias de trabajo - milímetros a pulgadas de la fuente de luz
Lograr nuevos niveles de descubrimiento con la microscopía de rayos X versa3d (xrm) zeissxadia 510, la primera solución in situ / 4D de la industria. Nuestra función única de Raad (resolución a larga distancia) rompe la barrera de resolución de una micra de muestras de milímetros a centímetros.
El instrumento combina perfectamente la resolución y el contraste líderes mundiales con una distancia de trabajo flexible para ampliar la capacidad de imágenes no destructivas en el laboratorio.
Ventajas:
La arquitectura xradiaversa utiliza una tecnología de amplificación de dos niveles que le permite lograr una resolución única en la distancia (raad). En la primera fase, la imagen de la muestra se amplifica a través de una ampliación geométrica, al igual que el microcontacto tradicional. En la segunda fase, el centelleador convierte los rayos X en luz visible y luego los amplifica ópticamente. La reducción de la Dependencia de la ampliación geométrica permite al instrumento xradiaversa mantener una resolución submicron a grandes distancias de trabajo. Esto le permite estudiar eficazmente el mayor número de muestras, incluso en interiores in situ. Además, varias funciones opcionales amplían los beneficios de la arquitectura central del sistema.
Conservar y ampliar el uso de muestras valiosas con imágenes 3D no destructivas
Diseño con un microscopio versa único para lograr la resolución máxima a la distancia máxima de trabajo de la fuente de luz, requisito previo para la imagen in situ y de muestras grandes
Con una ampliación de amplio rango, la imagen a escala de longitud de la misma muestra, la resolución espacial real de menos de 0,7 micras y el tamaño de voxel por debajo de 70 nm.
4D y funciones de campo líderes en la industria, soportan una variedad de plataformas de perforación de campo para imágenes submicron de muestras de tamaño real (mm a pulgadas), con un peso de hasta 25 kg y un tamaño de muestra de hasta 300 mm
Arquitectura única de amplificación en dos etapas, que permite una navegación fácil a través de múltiples sistemas de detección de amplificación, operaciones continuas a través de tomografía computarizada multipunto automática y escaneo repetido, y reconstrucción a alta velocidad
Absorción avanzada y contraste de materiales y tejidos blandos de baja Z
Scout-and-Scan ™ El sistema de control, una configuración de flujo de trabajo fácil de usar, es una opción ideal en un entorno multiusuario.
Resolución espacial submicron real de la fuente a milímetros a pulgadas:
Xradia510 versa maximiza la eficacia de la microscopía de rayos X (xrm) y permite imágenes 3D flexibles en varios entornos de Investigación. La resolución espacial real de la xradia510versa es superior a 0,7 micras y el tamaño de voxel que se puede lograr es inferior a 70 nm. al experimentar la versatilidad de materiales blandos o de baja Z con un contraste de absorción avanzado y un contraste de fase innovador, se superan las limitaciones de las tomografías computarizadas tradicionales.
Lograr un rendimiento más allá del micro - CT y ampliar la investigación científica más allá de los límites de los sistemas de tabletas. La tomografía computarizada tradicional depende de la amplificación de una sola etapa, y el instrumento xadiaversa utiliza un proceso único de dos etapas basado en un sistema óptico de apertura de sincrotrón, cuyo sistema de detección está optimizado para alta resolución en resolución, contraste y gran distancia de trabajo. Con la resolución Zeiss de larga distancia (raad), puede lograr una exploración basada en laboratorio sin precedentes para diversas aplicaciones y tipos de muestras.
Los rayos X no destructivos y la función de zoom de longitud flexible le permiten visualizar la misma muestra a diversas amplitudes. Como líder de la industria en soluciones 4D / in situ, con la ayuda de xadiaversa, puede estudiar la microestructura de materiales característicos de la superficie únicos en su entorno nativo y estudiar la evolución de las propiedades con el tiempo. El kit opcional versa in situ le permite optimizar la configuración, simplificar la operación y proporcionar un tiempo de resultados más rápido, organizando instalaciones que admitan plataformas de perforación in situ, como cableado y tuberías, para maximizar el rendimiento de imagen y la facilidad de uso.
Además, el sistema de control Scout - and - Scan permite un entorno de flujo de trabajo eficiente a través de la configuración basada en fórmulas, lo que facilita a los usuarios con diversos niveles de experiencia la xradia510versa.
Mínimo necesario para la preparación de muestras
El versainsitukit opcional puede organizar instalaciones que admitan salas ambientales, como cableado y tuberías, para lograr un rendimiento óptimo de imagen y simplificar la configuración
La opción autoloader le permite programar y ejecutar hasta 14 muestras a la vez, maximizando así la eficiencia de la producción y logrando un flujo de trabajo automatizado de escaneo de alta capacidad.
Máquina de medición opcional de tres coordenadas
Máquina de medición de tres coordenadas de puente
Plataforma de medición de escaneo Zeiss Spectrum
ZEISS PRISMO
ZEISS ACCURA
Zeiss micura tamaño pequeño * precisión
Zeiss contrara compacto
ZEISS XENOS
Zeiss Spectrum móvil
Zeiss micura móvil
ZEISS CONTURA
ZEISS PRISMO
ZEISS CONTURAZEISS ACCURA
Tres coordenadas compuestas
ZEISS O-INSPECT322
ZEISS O-INSPECT543
ZEISS O-INSPECT863
Máquina de medición de tres coordenadas de alta precisión de pórtico grande
ZEISS MMZ G
ZEISS MMZ M
ZEISS MMZ T
Producción de máquinas de medición de tres coordenadas
ZEISS CenterMax
ZEISS GageMax
ZEISS DuraMax
Máquina de medición de tres coordenadas en voladizo
ZEISS CALENO
ZEISS PRO/PRO T
ZEISS CARMET
Máquina de medición de tomografía computarizada
ZEISS METROTOM 6 scout
ZEISS Xradia610 & 620 Versa
ZEISS Xradia 800 Ultra
ZEISS Xradia 810 Ultra
ZEISS Xradia Context microCT
ZEISS Xradia 410 Versa
ZEISS Xradia 510 Versa
Gabinete de blindaje de rayos X Zeiss SRE maxx
ZEISS METROTOM 800
ZEISS METROTOM 1500
Procedimientos de control e inspección del proceso de producción
ZEISS VoluMax
ZEISS SurfMax
Robot de medición en línea
Estación de medición mixta
Estación de trabajo robótica fuera de línea
Estación de medición y detección 2d
Guía robótica
Solución de medición Zeiss
Wittmann
Nidec Motors
Henschel
GRASS
Cummins
LT Ultra
SABS
Fundición a presión de xiongbang
Volkswagen
GM
Bosch
IAC
Agusta Westland
Andrew Tool
Jamco Aeropspace
Three-M Tool
Moventas
Pietro Rosa
PMT India
Rochester Precision Optics
Schwan Cosmetics
Agfa Healthcare
CardioBridge
MeadWestvaco
Braun
starlim//sterner
