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Dongguan qinzhuo Environmental Test Equipment co., Ltd.
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* caja de prueba de calor húmedo de alta y baja temperatura del chip

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Descripción general
¿¿ cuál es la Caja de pruebas de alta y baja temperatura comúnmente utilizada en los chips? $r $n en términos generales, las cajas de prueba de alta y baja temperatura comúnmente utilizadas en las pruebas de chips son LK - 80g. los productos tienen pruebas de programación cíclica como Alta temperatura, baja temperatura y calor húmedo. en muchas empresas nacionales de chips, se utilizan cajas de prueba de alta y baja temperatura LK - 80g. * chip caja de prueba de calor húmedo de alta y baja temperatura $r $n bienvenido a ordenar la Caja de prueba de alta y baja temperatura de la marca qinzhuo, nuestra empresa adopta * caja de prueba de alta y baja temperatura, caja de prueba de ciclo de alta y baja temperatura, caja de prueba de alta y baja temperatura y otros equipos de prueba ambiental, para que más clientes puedan comprar cajas de prueba de alta y baja temperatura eficientes y duraderas.
Detalles del producto

* caja de prueba de calor húmedo de alta y baja temperatura del chip

* caja de prueba de calor húmedo de alta y baja temperatura del chip

¿¿ cuál es la Caja de pruebas de alta y baja temperatura comúnmente utilizada en los chips?
En términos generales, las cajas de prueba de alta y baja temperatura comúnmente utilizadas en las pruebas de chips son LK - 80g. los productos tienen pruebas de programación cíclica como Alta temperatura, baja temperatura y calor húmedo. en muchas empresas nacionales de chips, se utilizan cajas de prueba de alta y baja temperatura LK - 80g.
Bienvenido a ordenar la Caja de prueba de alta y baja temperatura de la marca qinzhuo. nuestra empresa adopta * La Caja de prueba de alta y baja temperatura, la Caja de prueba de ciclo de alta y baja temperatura, la Caja de prueba de alta y baja temperatura y otros equipos de prueba ambiental, para que más clientes puedan comprar cajas de prueba de alta y baja temperatura eficientes y duraderas.
I. parámetros técnicos de las cajas de prueba de alta y baja temperatura utilizadas comúnmente en los chips:
1. rango de temperatura: 0 ℃ ~ 150 ℃, - 20 ℃ ~ 150 ℃, - 40 ℃ ~ 150 ℃, - 60 ℃ ~ 150 ℃, - 70 ℃ ~ 150 ℃.
2. rango de humedad: 20% - 98% r.h (temperatura de 15 ℃ ~ 80 ℃)
3. fluctuación de la temperatura: ≤ ± 0,5 ℃.
4. uniformidad de la temperatura: ≤ ± 2 ℃.
5. fluctuación de la humedad: + 2%, - 3% r.h
6. velocidad de calentamiento: 1,0 a 3,0 ° C / min
7. tasa de enfriamiento: 0,7 a 1,2 ° C / min
8. rango de configuración de tiempo: 0 a 9999h
9. tensión de alimentación: ac380v / 50hz

2. especificaciones de la Caja de prueba de alta y baja temperatura comúnmente utilizada en el chip (unidad: mm): (se puede personalizar un tamaño más grande de acuerdo con los requisitos del cliente)
Tamaño de la caja interior del modelo LK - 80g: W × H × d 450 × 500 × 400 tamaño exterior: 970 × 1360 × 970
Tamaño de la caja interior del modelo LK - 150g: W × H × d 500 × 600 × 500 tamaño exterior: 1070 × 1460 × 1070
Tamaño de la caja interior del modelo LK - 225g: W × H × d 500 × 750 × 600 tamaño exterior: 1070 × 1610 × 1170
Tamaño de la caja interior del modelo LK - 408g: W × H × d 600 × 850 × 800 tamaño exterior: 1170 × 1710 × 1270
Tamaño de la caja interior del modelo LK - 800g: W × H × d 1000 × 1000 × 800 tamaño exterior: 1550 × 1840 × 1290
Tamaño de la caja interior del modelo LK - 1000g: W × H × d 1000 × 1000 × 1000 tamaño exterior: 1550 × 1840 × 1470

3. el sistema de control de la Caja de prueba de alta y baja temperatura comúnmente utilizado en el chip:
1. adoptar un instrumento de control de temperatura y humedad digital de alta precisión de importación completa, control de alta precisión p.i.d;
2. precisión: 0,1, resolución: + 0,1 ° c, sensor de temperatura: termómetro de resistencia de platino pt100;
3. el control de temperatura adopta el sistema p.i.d + s.s.r para coordinar el control con el canal;
4. tiene la función de cálculo automático, que puede corregir inmediatamente las condiciones de cambio de temperatura para que el control de temperatura y humedad sea más preciso y estable;
5. el gráfico de la curva de funcionamiento en tiempo real de la interfaz de operación del controlador se puede mostrar por la pantalla;
6. el sistema de circulación de temperatura adopta un motor de aire acondicionado resistente a la temperatura y el bajo ruido, una rueda de viento centrífuga de varias hojas;

4. sistema de refrigeración de la Caja de prueba de alta y baja temperatura comúnmente utilizado en el chip:
1. compresor: completamente cerrado y original francés taikang;
2. modo de refrigeración: mecanismo único (doble) frío;
3. método de condensación: enfriamiento forzado por aire;
4. las válvulas solenoides, los separadores de aceite, los filtros de secado, las válvulas de reparación, las ventanas de flujo de refrigerante y los cilindros de almacenamiento de líquidos adoptan piezas originales importadas;

5. condiciones de uso del equipo de la Caja de prueba de alta y baja temperatura programable:
1. temperatura ambiente: 5 ° C a 30 ° c, humedad ambiente: ≤ 85%;
2. no se pueden colocar cosas a unos 80 centímetros antes y después de la colocación de la máquina;

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