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Sistema de evaluación del deterioro de la resistencia de aislamiento de Huawei

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Descripción general
La migración de iones del sistema de evaluación de deterioro de la resistencia de aislamiento (migración de iones) de los instrumentos de medición chinos se refiere a la disminución de las propiedades de aislamiento de metales en placas de circuito como cobre, plata y estaño que se ionizan en ciertas condiciones y migran a otro polo a través de la capa aislante bajo la Acción de un campo eléctrico. El sistema de evaluación del deterioro de la resistencia al aislamiento (migración de iones) es un equipo de prueba de confianza. Sistema de evaluación del deterioro de la resistencia de aislamiento de Huawei
Detalles del producto


Sistema de evaluación del deterioro de la resistencia al aislamiento (migración de iones)

Evaluar el grado de deterioro de los materiales aislantes y el fenómeno de la migración de iones


华测绝缘电阻劣化评估系统


Instrumento de medición de ChinaSistema de evaluación del deterioro de la resistencia al aislamiento (migración de iones)Introducción del producto:

La migración iónica se refiere a la disminución de las propiedades aislantes de metales en placas de circuito como cobre, plata y estaño que se ionizan en ciertas condiciones y migran a otro polo a través de una capa aislante bajo la acción de un campo eléctrico.Sistema de evaluación del deterioro de la resistencia al aislamiento (migración de iones)Es un equipo de prueba de confianza. Pasa por aplicar un voltaje de corriente continua fijo a una placa de circuito impreso y pasa por un largo período de pruebas..De 1 a 1000 horas se puede personalizar bajo demanda), observar si hay cortocircuitos instantáneos en la línea y registrar los cambios en el valor de la resistencia, evaluando así el grado de deterioro del material aislante y el impacto del fenómeno de migración de iones.


Instrumento de medición de ChinaSistema de evaluación del deterioro de la resistencia al aislamiento (migración de iones)Áreas de aplicación:

Materiales de embalaje: flujo, placa de circuito impreso, fotorresistente, soldadura, resina, pegamento conductor y otros materiales relacionados con la placa de circuito impreso y el embalaje de alta densidad;

Material electrónico: impresoBga, CSP y otros envases IC de paso fino;

Semiconductores orgánicos:Ppv, ndi, ofets, oscs, oleds, etc.;

Componentes electrónicos: condensadores, conectores y otros componentes y materiales electrónicos;

Materiales aislantes: evaluación de las características de absorción de humedad de varios materiales aislantes.


Parámetros técnicos:

Medir el voltaje:100 a 1500v (se puede personalizar)

Canal de prueba:128 canales (se pueden personalizar hasta 960 canales)

Duración de la prueba:Puede funcionar continuamente1500 horas

Temperatura de prueba:85 ° c (se puede personalizar)

Humedad de prueba:85% (personalizable)

Rango de medición:1 × 105 ~ 1 × 1015Ω

Tensión de polarización:100 a 1500v (se puede personalizar)

Ciclo de escaneo:El más rápido2 minutos (128 canales)


Incubadora termostática

Modelo:HC-80 Rango de temperatura:RT ~ + 100 ℃ Volumen interior..(L):80

Modelo:HC-512 Rango de temperatura:RT ~ + 200 ℃ Volumen interior..L):512


Mini Caja ambiental de alta y baja temperatura

Modelo:HC-35 Rango de temperatura:-40 ~ +100℃ Volumen interior..(L):35

Modelo:HC-70 Rango de temperatura:-70 ~ +200℃ Volumen interior..(L):70

华测绝缘电阻劣化评估系统

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