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Scios 2 dualbeam FIB microscopía electrónica de doble haz

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Descripción general
Thermoscience sios2dualbeam es un sistema de análisis de alta resolución que puede proporcionar excelentes propiedades de preparación de muestras y caracterización tridimensional para una amplia gama de tipos de muestras, incluidos materiales magnéticos y no conductores.
Detalles del producto

Thermo Science 2 dualbeam es un sistema de análisis de alta resolución que puede proporcionar excelentes propiedades de preparación de muestras y caracterización tridimensional para una amplia gama de tipos de muestras, incluidos materiales magnéticos y no conductores. El diseño funcional del sistema scios 2 dualbeam, que optimiza la capacidad de procesamiento de muestras, la precisión del análisis y la facilidad de uso, es una solución ideal para satisfacer la investigación y el análisis de científicos e ingenieros en entornos académicos e industriales.

Scios 2 dualbeam puede localizar y preparar muestras S / TEM de alta resolución de varios materiales de manera rápida y fácil. El sistema está equipado con el software Thermo Science auto slice & view, que puede recopilar una variedad de información tridimensional de alta calidad y totalmente automática. Ya sea que la información estructural se obtenga en modo stem a 30 kV o desde la superficie de la muestra a una energía más baja, el sistema puede proporcionar excelentes detalles a nivel nanométrico en una amplia gama de condiciones de trabajo. Scios 2 dualbeam puede ayudar a los usuarios de todos los niveles de experiencia a obtener resultados de alta calidad y repetibles de manera rápida y fácil. además, el sistema está diseñado específicamente para las necesidades de caracterización microscópica de materiales desafiantes en la ciencia de materiales, equipado con una plataforma térmica de microelectromes completa y extremadamente rápida, que permite la caracterización de muestras en condiciones de trabajo cercanas al entorno real.

Fuente de lanzamiento: cañón de electrones de lanzamiento de campo Schottky de alta estabilidad

Resolución:
Bajo una distancia de trabajo muy buena
☆ 30 keV下 STEM 0,8 nm
☆ 1 keV下1.6 nm
Modo de desaceleración del haz de electrones a 1 keV 1,4 nm

Parámetros del haz de electrones:
● rango de corriente de la sonda: 1 Pa a 400 na
Rango de tensión de aceleración: 200 V a 30 KV
● rango de tensión de aterrizaje: 20 EV a 30 keV
Ancho del campo de visión horizontal grande: 3 mm a 7 mm WD y 7,0 nm a 60 mm WD
Función de montaje de navegación, que puede aumentar el ancho adicional del campo de visión

Óptica iónica:
Tubo de iones Sidewinder de haz grande
Rango de tensión de aceleración: 500 V a 30 KV
Rango de haz de iones: 1,5 Pa a 65 na
15 aperturas
Modo de inhibición de la deriva de muestras no conductoras estándar
La vida útil de la fuente de iones es de al menos 1000 horas
Resolución del haz de iones 3,0 nm a 30 KV

Sala de muestras:
El punto de coincidencia entre el haz de electrones y el haz de iones está a la distancia de trabajo del análisis (sem 7 mm)
● puertos: 21
Ancho interior: 379 mm

Mesa de muestras: Mesa de muestras eléctrica flexible de cinco ejes
● rango xy: 110 mm
● rango z: 65 mm
● rotación: 360 ° continua
[inclinación: - 15 ° ~ + 90 °
Precisión de repetición xy: 3 μm
El tamaño de la muestra grande de zui, con un diámetro de 110 mm, se puede girar completamente a lo largo de los ejes X e Y.
La altura de la muestra grande de zui, separada del punto central excelente, es de 85 mm.
La masa de la muestra grande de Zui es de 5 kg (incluido el soporte de la muestra)
● rotación concéntrica e inclinación

Soporte de muestra:
● soporte de muestra multifuncional estándar, instalado directamente en la Mesa de muestra de una manera única, con capacidad para 18 soportes de muestra estándar (phi 12 mm), 3 soportes de muestra preinclinados, 2 soportes laterales verticales y 2 preinclinados (38 ° y 90 °) sin herramientas para la instalación de muestras
● cada soporte de medición opcional puede acomodar 6 redes de cobre S / tem
● Varios chips y soportes de muestras personalizados se pueden proporcionar bajo petición (opcional)
Sistema detector: puede detectar hasta cuatro señales simultáneamente
Detector electrónico secundario ETD de la Sala de muestras
Detector de electrones de retrodispersión en el tubo T1
Detector electrónico secundario t2 en la lente
Detector electrónico secundario T3 en la lente (opcional)
Cámara infrarroja ir - CC (observar la altura de la Mesa de muestras)
Cámara óptica de color de navegación por imágenes NAV - Cam ™
● conversión de iones de alto rendimiento y detector electrónico Ice
● detector telescópico de retrodispersión de estado sólido de baja tensión, alto contraste y División DBS
Medición del haz de electrones

Sistema de control:
● sistema operativo de 64 bits, teclado, ratón óptico
● pantalla de imagen: pantalla LCD de 24 pulgadas, alta resolución de visualización 1920 × 1200
● admite una interfaz gráfica personalizada por el usuario, que puede mostrar cuatro imágenes en tiempo real al mismo tiempo
● soporte lingüístico local
Tablero de control multifuncional con joystick joystick joystick (opcional)

Características y uso:
Preparación rápida y sencilla de muestras de alta calidad, tem de localización y sonda atómica utilizando tubos de iones Sidewinder ht;
● la lente electrónica Thermo Science nicol puede realizar imágenes de alta resolución para satisfacer las necesidades de imágenes de una amplia gama de tipos de muestras;
● todo tipo de detectores integrados dentro y debajo de las botas polares, toman imágenes de alta calidad, afiladas y sin carga y proporcionan información completa de la muestra;
● software asv4 opcional para localizar con precisión las áreas de interés y obtener información interna y tridimensional de alta calidad y multimodal;
● una mesa de muestras de 110 mm altamente flexible y una cámara Thermo Science NAV - Cam incorporada permiten una navegación precisa de la muestra;
La tecnología especial de supresión de deriva dcfi y Thermo Science smartscience y otros modos logran imágenes sin artefactos y procesamiento gráfico;
Configuración flexible de dualbeam, optimizando las soluciones para satisfacer las necesidades específicas de la Aplicación.